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USING FAILURE MODE EFFECT ANALYSIS TO INCREASE ELECTRONIC SYSTEMS RELIABILITY
 
 
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Artigo ou capítulo de livro
Using failure mode effect analysis to increase electronic systems reliability
Criado por Bruno Domicinao Villari ( Universidade de Sao Paulo ) em 03 de Dezembro de 2009 - 15:05.
Atualizado por Rafael Laurenti ( KTH ) em 18 de Dezembro de 2009 - 11:04.
Descrição:

Método FMEA aplicado para melhorar a confiabilidade de sistemas eletrônicos. O principal conceito apresentado é o CMF (Common Mode Failure). O CMF aparece quando uma única falha causa a falha simultânea de vários componentes de um sistema, fato que ocorre sempre que modos de falhas de dois ou mais componentes são dependentes. Para se evitar que CMF cheguem ao cliente, deve-se usar redundâncias, isto é, componentes que têm a mesma função mas com diferentes princípios de funcionamento.

Palavras-chave: FMEA
Nó: 11415
Referência completa: GOEL, A.; GRAVES, R. Using failure mode effect analysis to increase electronic systems reliability. In: INTERNATIONAL SPRING SEMINAR ON ELECTRONICS TECHNOLOGY 2007: EMERGING TECHNOLOGIES FOR ELECTRONICS PACKAGING, 2007. Anais… EUA, 2007. p.128--133.

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